|
產品指標: 500MHz帶寬
產品信息:
示波器 TDS540
·500MHz帶寬
·最高1GS/s采樣率
·四通道
·時間間隔、2ns毛刺、脈衝幅度異常,
邏輯圖及狀態觸發
·1mV/格至10V/格靈敏度
·無限余輝和可變余輝顯示
·記錄長度每通道50,000點
·8-bit垂直分辨率,高分辨率方式時
可提高至15bit
·1%垂直精度
·可選FFT,微分及積分
·25種參數自動測量
·高分辨率彩色顯示
·3.5”DOS兼容磁盤
信號採集系統
通道數:四個
數字化儀:四個
帶度:500MHz
靈敏度:1mV至/10V格
移位範圍:±5格
偏置±1V.1~99.5mV/格;
±10V,100mV~995mV/格;
±100V, 1~10V/格
最高采樣器:1GS/s
垂直系統
直流增益精度:±1.0%
垂直分辨率:8-bit(將10.24個垂直格分成256級)
模擬帶寬選擇:20MHz,100MHz或全帶寬
輸入耦合:交流,直流或接地
輸入阻抗:1MΩ/10pF或50Ω(交流或直流耦合)
最大輸入電壓:±400V(直流+交流峰值)、頻率高于1MHz時,
以20dB/倍頻程下降。1MΩ輸入阻抗或接地耦合。
通道間隔離:≥100MHz時,>100:1; >30:1兩通道之間有著相同
的電壓偏轉係數
AC耦合時低頻限制:≤10Hz,AC/1MΩ耦合時;
≤200KHz, AC/50Ω耦合時;
時基系統
時基:主時基,延遲時基
掃描速度:500ps至10s/格
時基精度:間隔大於等於1ms時為0.0025%
記錄長度:500至15000點(50000點選件1M)
預觸發位置:記錄0~100%間
採集方式
峰值檢測:捕捉高頻和隨機毛刺,在所有實時取樣方式下,捕捉大於等於4ns的毛刺。
取樣:只取樣數據
包絡:單次或多次採集到的最大/最小值
平均:可選擇2次至10000次平均
高分辨率:提高採集低頻信號的垂直分辨率和和減小噪聲,例如50μs/格或更慢時達12-bit
觸發系統
觸發器:主觸發,延遲觸發
主觸發方式:自動,常態,單次
延遲觸發:時間延遲,事件延遲或時間和事件延遲
時間延遲範圍:16ns至250s(掃描時間≤10μs)
15.1ns至250s(掃描時間≥25μs)
事件延遲範圍:1至9,999,999個事件
外觸發輸入口:>1.5KΩ;最大直流加交流峰值輸入電壓為±20V。
顯示
波形類型:點陣或矢量,無限余輝或可變余輝,余輝時間為250ms至10s
灰度:16級亮度分級(可變余輝時)提供有關快變信號的‘Z 軸’信息
更新率:無限余輝時,若每波形為500點,則每秒鐘更新200次
CRT類型:7寸,磁偏轉,水平光柵掃描,P4白色磷粉
分辨率:640×480
ZOOM(縮放)
ZOOM特性可將波形放大,壓縮和進行水平,垂直位移,在不影響正常波形採集的情況下進行波形的精密比較和細微研究,與高分辨率或平均方式一起使用時,有效的垂直動態範圍為100格。
閾值:可以百分數或電壓值設定
門限:用垂直雙線可將記錄的任意部分隔離出來用於測量
快照:一次過完成單波形的25種參數測量,並即刻將結果顯示出來。
游標測量:絕對值,相對值,電壓,時間和頻率
游標類型:水平雙線(電壓);垂直雙線(時間);可獨立使用或在跟蹤方式下使用。
波形處理
波形函數:任選(Sinx/x或線性內插法,平均或包絡
先進的波形函數(選件):FFT、微分、積分
算朮運算:加、減、乘、反相
自動設置:單鍵完成,根據選定信號自動設置垂直、水平和觸發系統
自動極限測試:將輸入波形與參考波形的上、下限比較
計算機接口
GPIB(IEEE-488.2)可程控能力:
全聽/講功能:所有模式、狀態和測量均可控制。
存貯
波形:4個5000點之記錄,總共50000點。
狀態:十個前面板狀態
物理特性
尺寸:236mm(高)×445mm(寬) ×432mm長
重量:12.3公斤
|